JX-2000顆粒圖像分析儀一、應用范圍適用于磨料、陶瓷、碳化硅、硅灰石、金剛石硬質合金等各種粉末物料顆粒的形貌觀察和粒度分析。 二、 性能特點1、 工業級攝像頭高速采集，光學顯微鏡放大成像，圖像快速顯示于電腦，直接觀察顆粒形貌，專用軟件進行顆粒數據處理。2、 測量范圍：0.5μm～3000μm3、 全平場消色差物鏡，最大分辨率0.07微米，最大光學放大倍數1600倍，打印最大倍數4000倍(A4幅面)4、 提供等面積和等周長兩種基準下的個數、直徑、面積、體積、圓形度等分布數據。同時提供顆粒數、D10、D50、D90、平均粒徑、表面積、長徑比等粒度分布數據，配有(30)多種圖像分析和處理功能，可以滿足各種圖像處理需要。5、 對采集的圖像進行調整高度、寬度、亮度、對比度、濾波、填充等，提高分析分辨率，網格標注顆粒尺寸等功能，使測試結果更真實可靠。6、 儀器分二種型號，技術原理、參數都相同，JX-2000A型顆粒圖像分析儀配置透射顯微鏡，JX-2000B型顆粒圖像分析儀配置透反射顯微鏡，后者還可用于陶瓷、金屬等各種不透光物體表面晶形的觀察分析。7、 顆粒形貌圖像可存盤和打印，還可輸出多種格式的測試報告。另可根據行業特殊要求，設計磨料、硅灰石等專用軟件。三、圖像分析處理功能1、 色調處理：負像、灰度化、色調調整、亮度、對比度調整；2、 圖像矯正：水平鏡像、垂直鏡像、90度（逆時針)、90度(順時針) 、旋轉、放大、縮小任意比例縮放等；3、 測量單位：微米、毫米、厘米、英吋任選；4、 圖像增強：對比度均衡、膨脹、腐蝕等；5、 圖像處理：圖像銳化，邊緣平滑，二值化，邊界濾波，分析目標擦除、孔洞填充，手工擦除，手工連接，粒子屬性查看、設置標尺、網格等功能；6、 分析參數：（1）幾何參數：每個顆粒的質心 X、Y 坐標位置，像素；（2）當量幾何參數：等面積圓直徑，等周長圓直徑，長徑，短徑，長徑比；（3）外接幾何參數：每個顆粒的外接圓直徑；（4）光密度參數：圖像 R、G、B、灰度分布；（5）形態學參數：長徑比，圓度系數； 
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